富士變頻器報(bào)警故障分析

一平臺建設、oC1、OC2、OC3故障故障顯示OC1，0C2，0C3迎來新的篇章，是富士變頻器最常見(jiàn)的故障之一，它指變頻器加速不負眾望、減速和恒速中過(guò)電流共同學習，此故障產(chǎn)生的原因有以下幾種。

1．加減速時(shí)間過(guò)短改善，這是最常見(jiàn)的過(guò)電流現(xiàn)象。可依據(jù)不同的負(fù)載情況相應(yīng)調(diào)整加減速時(shí)間推廣開來，就能消除此故障空白區。

2．大功率晶體管損壞也可能引起OC報(bào)警。從早期的用于G2(P2)密度增加，G5(P5)應用優勢，G7(P7)系列的GTR模塊，到G9(P9)系列的IGBT模塊信息化，以至IPM模塊發展需要，無(wú)論從封裝技術(shù)還是保護(hù)性能創新內容，都有了很大提高，高耐壓信息、大電流實踐者、高頻、低耗廣泛關註、靜音豐富、多保護(hù)功能已成為大功率晶體管模塊的發(fā)展趨勢(shì)。大功率晶體管模塊的損壞主要有以下幾種原因：(1)輸出負(fù)載短路顯示；(2)負(fù)載過(guò)大善於監督，大電流持續(xù)出現(xiàn)；（3)負(fù)載波動(dòng)很大豐富內涵，導(dǎo)致浪涌電流過(guò)大數據。

3．大功率晶體管的驅(qū)動(dòng)電路損壞導(dǎo)致過(guò)流報(bào)警。富士G7S就能壓製、G9S分別使用了PC922和PC923兩種光耦作為驅(qū)動(dòng)電路的核心部分邁出了重要的一步。由于內(nèi)置放大電路設(shè)計(jì)簡(jiǎn)單，被包括富士變頻器在內(nèi)的多家變頻器廠家廣泛使用結論。驅(qū)動(dòng)電路損壞的最常見(jiàn)現(xiàn)象就是缺相統籌發展，或三相輸出電壓不平衡。

4．檢測(cè)電路的損壞導(dǎo)致變頻器顯示OC報(bào)警積極回應。檢測(cè)電流的霍爾傳感器由于受溫濕度等環(huán)境因素的@G=。0 可匡0 匡匡嘯0影響深化涉外，工作點(diǎn)很容易飄移全會精神，導(dǎo)致OC報(bào)警。

二又進了一步、開(kāi)關(guān)電源損壞開(kāi)關(guān)電源損壞的特征是變頻器上電無(wú)顯示智能化。富士G5S采用兩級(jí)開(kāi)關(guān)電源，先把中間直流回路的直流電壓由500V左右轉(zhuǎn)換成300V左右拓展基地，然后再通過(guò)一級(jí)開(kāi)關(guān)電源輸出5V綜合措施、24V等多路電源。開(kāi)關(guān)電源損壞常見(jiàn)的有開(kāi)關(guān)管擊穿處理、脈沖變壓器燒壞以及次級(jí)輸出整流二極管損壞攜手共進。濾波電容使用時(shí)間

三、整流橋損壞富士G7S使用一塊帶有可控硅的整流模塊自然條件，它與普通整流橋的區(qū)別在于用可控硅替代了主回路接觸器擴大公共數據，提高了機(jī)器的可靠性。G9S小功率機(jī)器整流橋則是集成可控硅與開(kāi)關(guān)管于一體體系流動性。整流橋的損壞常與機(jī)器外部電源有密切聯(lián)系設計標準，當(dāng)整流橋發(fā)生故障后深度，不可再盲目上電源，應(yīng)先檢查外圍設(shè)備經過。四帶來全新智能、LV、oV故障欠壓和過(guò)壓也是富士變頻器的常見(jiàn)故障核心技術體系，這有主電源因素引起的故障報(bào)警自主研發，也有機(jī)器檢測(cè)電路損壞而引起的報(bào)警。富士G5S使用了一片定做的電壓檢測(cè)厚膜電路配套設備，檢測(cè)主回路直流電壓發展成就。G7S、G9S則是直接從直流主回路采樣檢測(cè)建議，其檢測(cè)效果是一樣的優勢。此外富士變頻器也會(huì)經(jīng)常出現(xiàn)一些與主板有密切聯(lián)系的報(bào)警，包括(Err推動，Erl協調機製，Er7，Er3)等有效性。